欢迎来到北京迅捷研达科技有限公司

    原子力显微镜 Bruker Dimension ICON

    • 型号: 美国molecular MAC-picoplus, 日本岛津SPM-960, Bruker Dimension ICON;Bruker Multimode 8;牛津MFP-3D infinity;牛津 CypherES等。
    • 商品库存: 有现货
  • 商品详细
  • AFM 原子力显微镜


    价格


    薄膜样品                            ¥300

    粉末、块体、液体样品        ¥400

    导电性C-AFM                    ¥1200

    弹性模量                            ¥1200

    压电力显微镜(PFM        ¥1200

    表面电势                            ¥1500


    样品要求:

    1.样品状态:可为粉末、块体、薄膜样品;

    2.粉末样品:颗粒一般不超过5微米,提供20mg,液体不少于1ml,尺寸过大请提前咨询;

    3.粉末/液体样品请务必备注好制样条件,包括分散液,超声时间及配制浓度;

    4.薄膜或块状样品尺寸要求:长宽0.5-3cm之间,厚度0.1-1cm之间,表面粗糙度不超过5um,一定要标明测试面! 样品尺寸需在10mm×10mm以内,NT-MDT仪器可测量大尺寸样品。

    5.测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上,基底大小大于0.5*0.5cm


    表征技术:

    1. 力学性质:力曲线,杨氏模量,黏附力,摩擦力等;

    2. 电磁学性质:表面电势,导电原子力,压电力响应,静电力,扫描电容显微镜,磁场力显微镜等;

    3. 光学性质:AFM-拉曼联用;

    4. 纳米加工:纳米压痕/划痕等。

    应用范围:

    1.生物学和生物技术,蛋白质、 DNA、病毒、细菌、组织等;

    2.材料科学,表面形貌形态、压电性质、粘滞力分析、摩擦特性分析等;

    3.磁材料,磁畴结构成像、观察因外部磁场引起的磁性的反转、不同温度下的磁结构变化等;

    4.半导体和电学性质测量,硅片等材料的表面形貌、表面电势和电容测量、表面电荷分布图、掺杂浓度分析、失效分析(局域导电性和绝缘层漏电流)

    5.聚合物和有机薄膜,球状或柱状晶体、聚合物单晶材料、聚合物纳米颗粒、LB 膜、有机薄膜等;

    6.纳米材料,纳米粉体、纳米复合材料、纳米多孔材料;

    7.纳米结构材料,富勒烯、碳纳米管、纳米丝、纳米胶囊;

    8.纳米电子学,量子点、纳米线、量子结构。

    客服热线:16750469919 17156785576

    传真:

    邮编:10000

    友情链接:转一转网    信德金服

    版权所有 ©北京迅捷研达科技有限公司 CopyRight ©Beijing Xunjie Yanda Technology Co., Ltd
    ICP备案号:京ICP备2021026775号-1
  • 首页

  • 分类

  • 电话

  • 我的