球差电镜AC-TEM

价格：面议

型号：FEI Theims Z，Titan Cubed Themis G2300，JEM-ARM200F， HD-2700

注意

制样须用微栅或者超薄碳膜；样品要求洁净干燥：

1.无磁性的一般透射电镜样品

2. FIB制备的样品; 分散在铜网上的粉末样品; 其他透射电镜样品（特殊样品杆）

3.测试价格请咨询工程师。

功能

1.STEM模式能够对无机材料结构进行亚埃尺度（<0.1 nm）的表征和分析；

2.能利用高角度环形暗场（HAADF）、环形明场（ABF）、能谱（EDS）、电子能量损失谱（EELS）等技术直接观察无机材料中轻、重原子的位置和排布情况，并获得相应的化学环境和电子结构信息；

3.可对无机材料进行形貌和成分的三维重构；

4.可对无机材料进行差分相位衬度（DPC）分析；

5.可表征无机材料中的原子间电场分布；

6.可对无机材料进行常规的形貌、成分、衍射、高分辨结构等分析。