SEM  扫描电子显微镜

价格

SEM形貌         ￥150元

磁性SEM形貌  ￥200元

EDS                ￥100元

Maping          ￥300元

液氮脆断         ￥100元

设备型号： JSM-7401F型; JSM-7800F (日本，JEOL公司)，Zeiss Sigma 300；Zeiss Gemini 300；Zeiss Merlin Compact；Hitachi S4800；蔡司 Supra 55等

注意：

请在测试单上注明：样品是否需要喷金，有无磁性等，测试内容(形貌+能谱（EDS）点扫或能谱(EDS)线扫或(maping), 样品是否回收。

样品要求：

      有磁性请提前告知，粉末样品：不少于15毫克，不能含水，若样品不导电，请告知是否需要进行镀金处理；多孔类或易潮解的样品，请提前真空干燥处理。

  制样时待测元素不能与基底成分有重合，如果要测C元素，样品不要分散到含C的基底上，可以分散到硅片，锡纸上，如果要测Si元素，注意不要制样到硅片上。形貌一般每样品提供8-12张左右照片，能谱点扫每样提供2个点，线扫每样测试1个位置，面扫每样测试1个位置，具体根据样品的拍摄情况而定。